零件编号 |
TOP100I09/200G
|
---|---|
制造商 | Chip Shine / CSRF |
其它零件编号 |
2376-TOP100I09/200G-ND
2376-TOP100I09/200G
|
描述 | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE |
详细描述 | 3 A Spring Tip - Serrated Head, 0.035" (0.90mm) Dia |
分类 | ||
---|---|---|
制造商 | Chip Shine / CSRF | |
系列 |
TOP100
|
|
包装 |
盒子
|
|
状态 | Active | |
工作温度 | -55°C ~ 120°C | |
材质 - 主体 | Phosphor Copper, Gold Plated | |
总长 | 1.310" (33.27mm) | |
尖端类型 | Spring Tip - Serrated Head, 0.035" (0.90mm) Dia | |
长度 - 尖端 | 0.329" (8.35mm) | |
材料 - 尖端 | Steel, Beryllium Copper, Gold Plated | |
额定电流(安培) | 3 A |
资源类型 | 链接 | |
---|---|---|
规格书 | TOP100I09/200G |
属性 | 描述 | |
---|---|---|
ECCN | EAR99 | |
HTSUS | 8538.90.0000 | |
湿气敏感性等级 (MSL) | 1 (Unlimited) | |
REACH 状态 | Vendor Undefined | |
RoHS 状态 | 符合 RoHS 规范 |
数量 | 单价 | 总价 |
---|---|---|
{{ numberFormat(price.break_quantity) }} | {{ priceFormat(price.unit_price) }} | {{ priceFormat(price.break_quantity * price.unit_price) }} |